Criteri di ricerca
Hai eseguito la ricerca con i criteri: Autore "Muep, W."| Informazioni | |
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Titolo:
Comprobación de equipos topográficos y dispositivos de medida avanzados: una contribución al control de calidad.
Fonte:
Topografía y cartografía
Autori:
Staiger, R. | Muep, W. | Univ. Essen, Essen, Alemania
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